Поиск

Температурно-зависимое интегральное поглощение экситонных поляритонов в полупроводниковых кристаллах

Авторы: Сейсян, Р. П. Ваганов, С. А.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/675871931
Дата корректировки 14:14:42 1 июня 2021 г.
10.21883/FTP.2020.04.49135.9293
Служба первич. каталог. Шавель
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 621.315.592
Сейсян, Р. П.
Температурно-зависимое интегральное поглощение экситонных поляритонов в полупроводниковых кристаллах
Электронный ресурс
Temperature-dependent integrated absorption of excitonic polaritons in bulk semiconductors
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил.
Библиография Библиогр.: 25 назв.
Аннотация Данная работа выделяет экспериментальное использование температурного фактора при изучении интегрального поглощения как метода экспериментального подтверждения и исследования механизма экситон-поляритонного светопереноса вблизи края фундаментального поглощения в полупроводниковых кристаллах с пространственной дисперсией. Обобщены результаты экспериментальных исследований температурно-зависимого интегрального экситонного поглощения, приведены экспериментально определенные значения критической температуры, выше которой интегральное поглощение становится постоянным, соответствующие ему значения критического параметра затухания и продольно-поперечного расщепления для исследованных авторами полупроводников CdTe, GaAs, InP, ZnSe, ZnTe.
Ключевые слова экситонное поглощение
интегральное поглощение
температурно-зависимое поглощение
экситонные поляритоны
полупроводниковые кристаллы
Ваганов, С. А.
Физика и техника полупроводников
2020
Т. 54, вып. 4. - С. 327-330
Имя макрообъекта Сейсян_температурно
Тип документа b