Поиск

Исследование напряжeнности внутренних электрических полей в активной области светодиодных структур на основе InGaN/GaN с разным числом квантовых ям методом спектроскопии электропропускания

Авторы: Асланян, А. Э. Авакянц, Л. П. Червяков, А. В. Туркин, А. Н. Мирзаи, С. С. Курешов, В. А. Сабитов, Д. Р. Мармалюк, А. А.
Подробная информация
Индекс УДК 621.315.592
Исследование напряжeнности внутренних электрических полей в активной области светодиодных структур на основе InGaN/GaN с разным числом квантовых ям методом спектроскопии электропропускания
Электронный ресурс
Аннотация Методом спектроскопии электропропускания исследованы внутренние электрические поля светодиодных гетероструктур зелeного свечения на основе InGaN/GaN с разным числом квантовых ям в активной области. Проведено отнесение частот наблюдаемых спектральных линий с возможными типами межзонных переходов. Обнаружено увеличение числа межзонных переходов типа ”квантовая яма-квантовый барьер“ по мере увеличения числа квантовых ям, что объясняется неодинаковой степенью сегрегации атомов In в разные барьерные слои GaN. С помощью серии спектров электропропускания при разном смещении p-n-перехода рассчитана напряжeнность внутренних электрических полей в квантовых ямах. Обнаружено, что с ростом числа квантовых ям напряжeнность внутреннего пьезоэлектрического поля уменьшается с 3.20 до 2.82МВ/см.
Ключевые слова светодиодные гетероструктуры
Физика и техника полупроводников
2020
Т. 54, вып. 4. - С. 420-425
Имя макрообъекта Асланян_исследование