| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/675515134 |
| Дата корректировки | 11:48:20 28 мая 2021 г. |
| 10.21883/FTT.2020.12.50221.163 | |
| Служба первич. каталог. | Войтик |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 539.21 |
| Джумалиев, А. С. | |
|
Влияние напряжения смещения и скорости осаждения на структуру и коэрцитивность пленок NiFe Электронный ресурс |
|
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил. |
| Библиография | Библиогр.: 20 назв. |
| Аннотация | Исследовано влияние напряжения смещения U[b] и скорости осаждения ню на структуру, размер зерна D и коэрцитивность H[c] пленок NiFe толщиной d от 30 до 980 nm, выращенных на подложках Si/SiO[2] магнетронным распылением на постоянном токе. В случае U[b] = 0, снижение ню от значений ню приблизительно равного 27 nm/min до ню приблизительно равного 7 nm/min сопровождается ростом значений критической толщины пленок d[cr] от d[cr] приблизительно равного 220nm до d[cr] приблизительно равного 270 nm. При этом H[c] в пленках c d < d[cr] характеризуется зависимостью H[c] ~ D{6} и меняется от ~ 1 до 20 ~ Oe. В случае U[b] = -100 V влияние скорости осаждения на коэрцитивность гораздо заметнее. При ню = 7 и 14 nm/min пленки демонстрируют магнитомягкие свойства (H[c] приблизительно равно 0.15-1.4Oe) и отсутствие d[cr] для всего диапазона исследованных толщин. Пленки, полученные при ню = 21 и 27 nm/min, переходят в "закритическое" состояние при d > или = d[cr] приблизительно равно 520 nm, а в области d < d[cr] характеризуются зависимостью H[c] ~ D{3} и ростом коэрцитивности от ~ 0.35 до ~ 10 Oe. |
| Ключевые слова | пленки |
|
магнитомягкие пленки структура пленок коэрцитивность пленок |
|
| Другие авторы | Высоцкий, С. Л. |
| Сахаров, В. К. | |
| Название источника | Физика твердого тела |
| Место и дата издания | 2020 |
| Прочая информация | Т. 62, вып. 12. - С. 2174-2179 |
| Имя макрообъекта | Джумалиев_влияние напряжения |
| Тип документа | b |
