| Индекс УДК | 621.315.592 |
|
Упругие деформации и делокализованные оптические фононы в сверхрешетках AlN/GaN Электронный ресурс |
|
| Аннотация | C использованием модели диэлектрического континуума установлена корреляция между частотами делокализованных фононов симметрии A(TO) и E(LO) в рамановских спектрах короткопериодных AlN/GaN сверхрешеток и отношением толщин слоев структуры. Показано, что упругие деформации, возникающие в материалах слоев при росте сверхрешеток, слабо влияют на вид корреляционной зависимости между частотами мод A(TO) и E(LO), имеющих высокую интенсивность в рамановских спектрах, и структурным параметром, определяющим отношения толщин слоев. Результаты расчетов фононных частот хорошо согласуются с имеющимися экспериментальными данными и могут быть использованы для спектроскопической диагностики AlN/GaN сверхрешеток. |
| Ключевые слова | нитрид алюминия |
| Название источника | Физика и техника полупроводников |
| Место и дата издания | 2016 |
| Прочая информация | Т. 50, вып. 8. - С. 1034-1069 |
| Имя макрообъекта | Панькин_упругие |
