Поиск

Влияние скин-эффекта и активных потерь на интенсивность линий ЭПР в полупроводящих веществах

Авторы: Зюзин, А. М. Карпеев, А. А. Янцен, Н. В.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/671294241
Дата корректировки 14:55:41 9 апреля 2021 г.
10.21883/FTT.2020.02.48875.590
Служба первич. каталог. Войтик
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 539.21
Зюзин, А. М.
Влияние скин-эффекта и активных потерь на интенсивность линий ЭПР в полупроводящих веществах
Электронный ресурс
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил., табл.
Библиография Библиогр.: 16 назв.
Аннотация Исследовано влияние скин-эффекта и активных потерь в образцах полупроводящего композита с широким диапазоном значений проводимости на интенсивность линии поглощения ЭПР. Предложен подход, позволяющий получить удовлетворительное соответствие расчетных и экспериментальных результатов. Показано, что в зависимости от проводимости исследуемого вещества, интенсивность линии поглощения, соответствующая единице объема, может в разы уменьшаться с увеличением объема исследуемого образца.
Ключевые слова композиты
полупроводящие вещества
электронный парамагнитный резонанс
скин-эффект
Другие авторы Карпеев, А. А.
Янцен, Н. В.
Название источника Физика твердого тела
Место и дата издания 2020
Прочая информация Т. 62, вып. 2. - С. 241-246
Имя макрообъекта Зюзин_влияние
Тип документа b