| Индекс УДК | 535.33 |
|
Spectral characteristics of reclaimed vegetation in a rare earth mine and analysis of its correlation with the chlorophyll content H. Li, Zh. Wei, X. Wang, F. Xu |
|
| Аннотация | Вследствие специальной технологии добычи разработка месторождений редкоземельных элементов изменяет свойства поверхности окружающей почвы и наносит ущерб экосистеме, что приводит к трудностям в экологическом восстановлении растительности. В качестве восстанавливаемой растительности выбраны тунговые деревья, бамбуковая ива и карибская сосна. Сопоставлены их спектральные характеристики в условиях экологического стресса окружающей среды. Путем анализа корреляции между содержанием в них хлорофилла и спектральными параметрами создана теоретическая основа гиперспектрального дистанционного зондирования для мониторинга восстановления растительности после воздействия редкоземельных элементов. Полученные результаты показывают, что коэффициент отражения в полосах видимого диапазона для трех типов растительности <0. 15, а в пиках в зеленой области и провалах в красной наблюдаются различные степени "красного смещения". Проведен корреляционный анализ между содержанием хлорофилла в трех типах растительности и исходными спектрами и спектрами производных. Оптимальная полоса в исходных спектрах сосредоточена вблизи красного провала. Спектры производных первого порядка более дисперсны, чем исходные спектры; сигнал, соответствующий тунговому дереву, сосредоточен на красном крае области, сигнал карибской сосны расположен в ближнем инфракрасном диапазоне, а сигнал бамбуковой ивы находится вблизи зеленого пика и красного края полосы. Эти три типа растительности имеют неcколько одинаковых и несколько различных параметров, чувствительных к хлорофиллу. Среди них REP — максимальный параметр для тунгового дерева, Dr — для карибской сосны, а SDr-SDb/SDb + SDr — для бамбуковой ивы, что может служить ориентиром для построения инверсионных моделей различного содержания хлорофилла в растительности. |
| Название источника | Журнал прикладной спектроскопии |
| Место и дата издания | 2020 |
| Прочая информация | Т. 87, № 3. - С. 508 |
