| Индекс УДК | 535.37 |
|
Анализ пакетов программного обеспечения для рентгенофлуоресцентного онлайн-контроля материалов на конвейере Э. В. Летко, К. С. Ландман, А. Д. Соколов |
|
| Аннотация | Рентгенофлуоресцентный анализ с использованием метода фундаментальных параметров без необходимости калибровки по стандартным образцам крайне необходим для некоторых применений. Проанализирована точность расчетов концентрации элементов, выполненных с использованием метода фундаментальных параметров в программном обеспечении XRS-FP. Возможность проведения рентгенофлуоресцентного анализа без необходимости в контрольных образцах делает этот программный пакет незаменимым для анализа неизвестных образцов. |
| Название источника | Журнал прикладной спектроскопии |
| Место и дата издания | 2020 |
| Прочая информация | Т. 87, № 3. - С. 469-472 |
