Поиск

Структурные характеристики тонких пленок Sr[0.5]Ba[0.5]Nb[2]O[6] в интервале температур 20-500°С

Авторы: Павленко, А. В. Захарченко, И. Н. Кудрявцев, Ю. А. Киселева, Л. И. Алихаджиев, С. Х.
Краткая информация
Маркер записи n 22 3 4500
Контрольный номер noma20_to56_no11_ss1252_ad1
Дата корректировки 13:04:23 30 марта 2021 г.
Кодируемые данные 210313s2020||||RU|||||||||||#||||# rus0|
Системный контрольный номер RUMARS-noma20_to56_no11_ss1252_ad1
AR-MARS
Служба первич. каталог. Научная библиотека Дагестанского государственного университета
МАРС
Код языка каталог. rus
Код языка издания rus
rus
Индекс УДК 539.2
Индекс ББК 22.37
Таблицы для массовых библиотек
Павленко, А. В.
070
Структурные характеристики тонких пленок Sr[0.5]Ba[0.5]Nb[2]O[6] в интервале температур 20-500°С
А. В. Павленко, И. Н. Захарченко, Ю. А. Кудрявцев [и др.]
Иллюстрации/ тип воспроизводства 4 рис.
Текст
непосредственный
Библиография Библиогр.: с. 1255-1256 (19 назв. )
Аннотация Методом RF-катодного распыления керамической мишени стехиометрического состава Sr[0. 5]Ba[0. 5]Nb[2]O[6] (SBN50) в кислородной атмосфере на подложке MgO (001) синтезированы пленки ниобата бария-стронция толщиной ~300 нм. Изучены профиль состава пленок по толщине методом масс-спектроскопии вторичных ионов, фазовый состав, структура и изменение параметра с элементарной ячейки материала пленки в интервале температур 20-500°С. Показано, что пленки SBN50 являются гетероэпитаксиальными, характеризуются наличием двух кристаллографических ориентаций, развернутых относительно друг друга на ~36. 8°, с одинаковыми параметрами тетрагональной элементарной ячейки (а = 12. 438, с = 3. 955), а их химический состав по толщине не изменяется и соответствует составу распыляемой керамической мишени. Установлено, что в пленке SBN50 в сравнении с монокристаллом и поликристаллическими пленками данного состава происходит увеличение температуры фазового перехода из сегнетоэлектрической в параэлектрическую фазу, при этом в окрестности t = 100°С имеет место изменение знака коэффициента термического расширения.
Физика
AR-MARS
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
AR-MARS
Ключевые слова ниобат бария-стронция
сегнетоэлектрики
тонкие пленки
гетероэпитаксия
структурные характеристики
Захарченко, И. Н.
070
Кудрявцев, Ю. А.
070
Киселева, Л. И.
070
Алихаджиев, С. Х.
070
ISSN 0002-337X
Название источника Неорганические материалы
Место и дата издания 2020
Прочая информация Т. 56, № 11. - С. 1252-1256
RU
36713090
20210313
RCR
RU
36713090
20210313
RU
AR-MARS
20210313
RCR
RU
AR-MARS
20210313
https://sciencejournals.ru/journal/neorgmat/
https://www.elibrary.ru/item.asp?id=44090815
Тип документа b
code
year
to
no
ss
ad
noma
2020
56
11
1252
1
13607