| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/667906920 |
| Дата корректировки | 9:42:00 1 марта 2021 г. |
| 10.15372/KhUR20160205 | |
| Служба первич. каталог. | Феллер |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 548.734+544.478.01+548.736.372.4 |
| Шефер, К. И. | |
|
Анализ влияния различных дефектов на дифракцию от гидроксидов алюминия и структурные особенности оксидов алюминия, полученных из различных псевдобемитов Электронный ресурс |
|
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил., табл. |
| Библиография | Библиогр.: 23 назв. |
| Аннотация | Исследованы алюмооксидные системы с использованием комплекса рентгенографических методов: метода Ритвельда, метода моделирования дифракционных картин одномерно разупорядоченных материалов, метода моделирования высокодисперсных веществ, метода радиального распределения электронной плотности. Выполнено моделирование дифракционных картин гидроксидов алюминия и кривых радиального распределения электронной плотности оксидов и гидроксидов. С использованием данных предшествующего моделирования исследована реальная структура гидроксидов алюминия с разными физико-химическими свойствами и полученных из них оксидов. Результаты могут быть использованы при анализе любых реальных объектов, содержащих алюмооксидные системы, прежде всего наноразмерных. |
|
гидроксиды алюминия оксиды алюминия рентгенографические методы исследования наноматериалы псевдобемиты алюминий |
|
|
Мороз, Э. М. Цыбуля, С. В. |
|
|
Химия в интересах устойчивого развития 2016 Т. 24, № 2. - С. 149-155 |
|
| Имя макрообъекта | Шефер_анализ |
| Тип документа | b |
