Поиск

Релаксация ядерных спинов {29}Si в микрокристаллах пластически деформированных образцов Si : B

Авторы: Коплак, О. В. Моргунов, Р. Б.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/667298391
Дата корректировки 8:27:01 25 мая 2021 г.
Служба первич. каталог. Войтик
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 539.21
Коплак, О. В.
Релаксация ядерных спинов {29}Si в микрокристаллах пластически деформированных образцов Si : B
Электронный ресурс
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил.
Библиография Библиогр.: 24 назв.
Аннотация Монокристаллы и микрокристаллы Si : B, обогащенные изотопом {29}Si, были исследованы методами ядерного магнитного резонанса и электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) в диапазоне температур 300-800 K. Установлено, что повышение температуры от 300 до 500 K приводит к смене кинетики релаксации насыщенной ядерной спиновой системы. При 300 K кинетика релаксации отвечает прямому электронно-ядерному взаимодействию с неоднородно распределенными парамагнитными центрами, введенными при пластической деформации кристаллов. При 500 K спиновая релаксация реализуется путем ядерной спиновой диффузии и электронно-ядерным взаимодействием с акцепторной примесью. Обнаружено влияние пластической деформации на спектры ЭПР при 9 K.
монокристаллы
микрокристаллы
кристаллы кремния
изотопно-обогащенный кремний
ядерные спины
ядерная спиновая динамика
пластическая деформация
Другие авторы Моргунов, Р. Б.
Название источника Физика твердого тела
Место и дата издания 2016
Прочая информация Т. 58, вып. 2. - С. 235-241
Имя макрообъекта Коплак_релаксация
Тип документа b