| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/666786968 |
| Дата корректировки | 13:56:22 16 февраля 2021 г. |
| Служба первич. каталог. | Шавель |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 621.317.08 |
| Алпатов, А. В. | |
|
Комплексный метод исследования корреляционных параметров самоорганизованных структур Электронный ресурс |
|
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил., табл. |
| Библиография | Библиогр.: 7 назв. |
| Аннотация | Исследованы корреляционные параметры самоорганизованных структур с использованием комплексного подхода - метода двухмерного флуктуационного анализа с исключенным трендом совместно с методом средней взаимной информации. В качестве самоорганизованных структур использованы модельные по верхности различной степени упорядоченности (упорядоченные, неупорядоченные, смешанные), а также пленки аморфного гидрогенизированного кремния и аморфного тетраэдрического углерода. На тестовых структурах было продемонстрировано, что корреляционные векторы, определенные по перегибам на зависимости флуктуационной функции от масштаба методом двухмерного флуктуационного анализа с исключенным трендом, достаточно точно совпадают с заданными периодами гармонических составляющих поверхности. Метод средней взаимной информации целесообразнее использовать для неупорядоченных структур. Выявлено, что физический смысл максимальной взаимной информации заключается в том, что она характеризует информационную емкость системы. Применение комплексного метода позволяет наиболее всесторонне исследовать корреляционные параметры смешанных структур. |
|
корреляционные параметры корреляционные векторы наноэлектроника кольцевые структуры кластеризация скейлинговые показатели полупроводниковые материалы |
|
|
Вихров, С. П. Вишняков, Н. В. Мурсалов, С. М. Рыбин, Н. Б. Рыбина, Н. В. |
|
|
Физика и техника полупроводников 2016 Т. 50, вып. 1. - С. 23-29 |
|
| Имя макрообъекта | Алпатов_комплексный |
| Тип документа | b |
