| Индекс УДК | 543.51 |
|
Анализ высокочистого диоксида германия с реакционной отгонкой основы методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой Т. Я. Гусельникова, А. Р. Цыганкова, А. И. Сапрыкин |
|
| Аннотация | Предложено сочетание процедуры отгонки основы диоксида германия с использованием микроволновой системы MARS 5 пробоподготовки с инструментальными возможностями метода атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой. Пробоподготовка основана на отделении матричного компонента после взаимодействия диоксида германия с парами соляной кислоты, которые образуются в автоклаве под воздействием микроволнового излучения. |
| Название источника | Журнал аналитической химии |
| Место и дата издания | 2020 |
| Прочая информация | Т. 75, № 5. - С. 408-412 |
