Поиск

Миграция электронов по трехзарядным дефектам кристаллической матрицы

Авторы: Поклонский, Н. А. Деревяго, А. Н. Вырко, С. А. Ковалев, А. И.
Подробная информация
Миграция электронов по трехзарядным дефектам кристаллической матрицы
Н. А. Поклонский, А. Н. Деревяго, С. А. Вырко, А. И. Ковалев
Дата издания оригинала 2020