Поиск

Влияние обратного пьезоэлектрического эффекта, фотоупругости и оптической активности на дифракционную эффективность пропускающих голограмм в фоторефрактивном кристалле Bi[12]SiO[20]

Авторы: Аманова, М. А. Шепелевич, В. В. Макаревич, А. В. Навныко, В. Н.
Краткая информация
Маркер записи n 22 3 4500
Контрольный номер zhps20_to87_no2_ss338_ad1
Дата корректировки 14:46:02 27 июля 2020 г.
Кодируемые данные 200706s2020||||RU|||||||||||#||||# rus0|
Системный контрольный номер RUMARS-zhps20_to87_no2_ss338_ad1
AR-MARS
Служба первич. каталог. Научная библиотека им. М. М. Бахтина Мордовского госуниверситета им. Н. П. Огарева
МАРС
Код языка каталог. rus
Код языка издания rus
rus
Индекс УДК 535.33
539.2
Индекс ББК 22.344
22.37
Таблицы для массовых библиотек
Таблицы для массовых библиотек
Аманова, М. А.
070
Влияние обратного пьезоэлектрического эффекта, фотоупругости и оптической активности на дифракционную эффективность пропускающих голограмм в фоторефрактивном кристалле Bi[12]SiO[20]
М. А. Аманова, В. В. Шепелевич, А. В. Макаревич, В. Н. Навныко
Текст
непосредственный
Библиография Библиогр.: с. 344
Аннотация Представлены результаты теоретических исследований зависимости дифракционной эффективности пропускающих голограмм, сформированных в образце фоторефрактивного кристалла Bi[12]SiO[20], от ориентационного угла, удельного вращения кристалла и его толщины. В теоретической модели учтены линейный электрооптический, обратный пьезоэлектрический и фотоупругий эффекты. Показано, что при изменении знака оптической активности кристалла может иметь место смещение максимумов дифракционной эффективности относительно значений ориентационного угла.
Физика
AR-MARS
Спектроскопия
AR-MARS
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
AR-MARS
Ключевые слова дифракционная эффективность
линейный электрооптический эффект
обратный пьезоэлектрический эффект
оптическая активность кристалла
пьезоэлектрический эффект
фоторефрактивный кристалл
фотоупругость
электрооптический эффект
Шепелевич, В. В.
070
Макаревич, А. В.
070
Навныко, В. Н.
070
ISSN 0514-7506
Название источника Журнал прикладной спектроскопии
Место и дата издания 2020
Прочая информация Т. 87, № 2. - С. 338-344
RU
43013090
20200706
RCR
RU
43013090
20200706
RU
AR-MARS
20200706
RCR
RU
AR-MARS
20200706
Тип документа b
code
year
to
no
ss
ad
zhps
2020
87
2
338
1
718