| Маркер записи | n 22 3 4500 |
| Контрольный номер | zhps19_to86_no4_ss524_ad1 |
| Дата корректировки | 11:35:47 1 ноября 2019 г. |
| Кодируемые данные | 191028s2019||||RU|||||||||||#||||# rus0| |
| Системный контрольный номер | RUMARS-zhps19_to86_no4_ss524_ad1 |
| AR-MARS | |
| Служба первич. каталог. |
Научная библиотека им. М. М. Бахтина Мордовского госуниверситета им. Н. П. Огарева МАРС |
| Код языка каталог. | rus |
| Код языка издания |
rus rus |
| Индекс УДК | 535.33 |
| Индекс ББК | 22.344 |
| Таблицы для массовых библиотек | |
|
Малашкевич, Г. Е. 070 z01710 |
|
|
Особенности вхождения самария в кварцевые гель-стекла, легированные алюминием и барием [Текст] Г. Е. Малашкевич [и др.] |
|
| Библиография | Библиогр.: с. 530 (24 назв. ) |
| Аннотация | Исследованы кварцевые гель-стекла, полученные остекловыванием на воздухе или в газовой смеси Н[2]: Ar ксерогелей, легированных Sm, Al и Ba. Установлено, что при их синтезе возможно формирование примесных гексагональных и тетрагональных кристаллитов SiO[2] и тетрагональных кристаллитов SmSi[2]. При использовании восстановительных условий синтеза имеет место вхождение самария в стекло одновременно в двух состояниях окисления 3{+} и 2{+}. При этом в Sm-Al-содержащих стеклах реализуется достаточно эффективная сенсибилизация люминесценции ионов Sm{2+} ионами Sm{3+}, а в Sm-Al-Ва-содержащих стеклах она отсутствует, так как ионы Sm{2+} локализуются в основном в подрешетке стекла, сформированной с участием ионов Ва{2+}. На основе полученных спектров рассчитаны положения энергетических состояний ионов Sm{2+} и Sm{3+} в таких стеклах. |
|
Физика AR-MARS Спектроскопия AR-MARS |
|
| Ключевые слова |
Sm-Al-содержащие стекла внутренний фильтр кварцевые гель-стекла легированные алюминием стекла легированные барием стекла люминесценция остекловывание перенос возбуждений положение энергетических состояний самарий фазовое разделение |
|
Шимко, А. Н. 070 z02710 Ступак, А. П. 070 z03710 Прусова, И. В. 070 z04710 Нищев, К. Н. 070 z05710 Кяшкин, В. М. 070 z06710 Корниенко, А. А. 070 z07710 Дунина, Е. Б. 070 z08710 Семченко, А. В. 070 z09710 Сергеев, И. И. 070 z10710 |
|
|
Институт физики НАН Беларуси z01700 Вторичная ответственность Институт физики НАН Беларуси z02700 Вторичная ответственность Институт физики НАН Беларуси z03700 Вторичная ответственность Институт физики НАН Беларуси z04700 Вторичная ответственность Мордовский государственный университет. им. Н. П. Огарёва z05700 Вторичная ответственность Мордовский государственный университет. им. Н. П. Огарёва z06700 Вторичная ответственность Витебский государственный технологический университет z07700 Вторичная ответственность Витебский государственный технологический университет z08700 Вторичная ответственность Гомельский государственный университет им. Ф. Скорины z09700 Вторичная ответственность Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники z10700 Вторичная ответственность |
|
| ISSN | 0514-7506 |
| Название источника | Журнал прикладной спектроскопии |
| Место и дата издания | 2019 |
| Прочая информация | Т. 86, № 4. - С. 524-530 |
|
RU 43013090 20191028 RCR |
|
|
RU 43013090 20191028 |
|
|
RU AR-MARS 20191028 RCR |
|
|
RU AR-MARS 20191028 |
|
| Тип документа | b |
|
code year to no ss ad |
|
|
zhps 2019 86 4 524 1 |
|
| 718 |
