| Индекс УДК | 543.45 |
|
Аналитический отклик сенсорных матриц на основе фотонных кристаллов: измерение диффузного отражения [Текст] А. В. Иванов [и др.] |
|
| Аннотация | Методом спектроскопии диффузного отражения изучены сенсорные органические матрицы на основе фотонных кристаллов из полистирольных субмикронных частиц, закрытых слоем полидиметилсилоксана. |
| Название источника | Журнал аналитической химии |
| Место и дата издания | 2019 |
| Прочая информация | Т. 74, № 2. - С. 154-160 |
