| Маркер записи | n 22 3 4500 |
| Контрольный номер | zhps19_to86_no1_ss71_ad1 |
| Дата корректировки | 13:00:42 29 апреля 2019 г. |
| Кодируемые данные | 190423s2019||||RU|||||||||||#||||# rus0| |
| Системный контрольный номер | RUMARS-zhps19_to86_no1_ss71_ad1 |
| AR-MARS | |
| Служба первич. каталог. |
Научная библиотека им. М. М. Бахтина Мордовского госуниверситета им. Н. П. Огарева МАРС |
| Код языка каталог. | rus |
| Код языка издания |
rus rus |
| Индекс УДК |
535.33 539.2 |
| Индекс ББК |
22.344 22.37 |
|
Таблицы для массовых библиотек Таблицы для массовых библиотек |
|
|
Войтович, А. П. 070 z01710 |
|
|
Трансформация и формирование радиационных точечных дефектов в облученных кристаллах фторида лития после их механической фрагментации [Текст] А. П. Войтович [и др.] |
|
| Библиография | Библиогр.: с. 77 (17 назв. ) |
| Аннотация | Показано, что в нанокристаллах, изготовленных механической фрагментацией облученных кристаллов LiF, происходят изменения концентраций обычных и формирование прикластерных радиационных дефектов (центров окраски). Концентрации прикластерных центров после фрагментации увеличиваются до стационарного значения и при комнатной температуре остаются постоянными в течение длительного времени. Установлено, что воздействие УФ излучения на изготовленные нанокристаллы после завершения в них процессов формирования центров значительно увеличивает концентрацию прикластерных дефектов, содержащих три анионные вакансии и два электрона. Продемонстрировано, что в необлученных нанокристаллах, изготовленных фрагментацией необлученных кристаллов, присутствуют одновакантные центры окраски, а также обычные и прикластерные агрегатные центры. |
|
Физика AR-MARS Спектроскопия AR-MARS Физика твердого тела. Кристаллография в целом AR-MARS |
|
| Ключевые слова |
УФ излучение кристаллы фторида лития нанокластеры нанокристаллы фторида лития радиационные точечные дефекты трансформация дефектов фотолюминесценция фторид лития |
|
Калинов, В. С. 070 z02710 Машко, В. В. 070 z03710 Новиков, А. Н. 070 z04710 Рунец, Л. П. 070 z05710 Ступак, А. П. 070 z06710 |
|
|
Институт физики НАН Беларуси z01700 Вторичная ответственность Институт физики НАН Беларуси z02700 Вторичная ответственность Институт физики НАН Беларуси z03700 Вторичная ответственность Институт физики НАН Беларуси z04700 Вторичная ответственность Институт физики НАН Беларуси z05700 Вторичная ответственность Институт физики НАН Беларуси z06700 Вторичная ответственность |
|
| ISSN | 0514-7506 |
| Название источника | Журнал прикладной спектроскопии |
| Место и дата издания | 2019 |
| Прочая информация | Т. 86, № 1. - С. 71-77 |
|
RU 43013090 20190423 RCR |
|
|
RU 43013090 20190423 |
|
|
RU AR-MARS 20190423 RCR |
|
|
RU AR-MARS 20190423 |
|
| Тип документа | b |
|
code year to no ss ad |
|
|
zhps 2019 86 1 71 1 |
|
| 718 |
