Маркер записи | n 22 3 4500 |
Контрольный номер | zhps19_to86_no1_ss66_ad1 |
Дата корректировки | 13:00:41 29 апреля 2019 г. |
Кодируемые данные | 190423s2019||||RU|||||||||||#||||# rus0| |
Системный контрольный номер | RUMARS-zhps19_to86_no1_ss66_ad1 |
AR-MARS | |
Служба первич. каталог. |
Научная библиотека им. М. М. Бахтина Мордовского госуниверситета им. Н. П. Огарева МАРС |
Код языка каталог. | rus |
Код языка издания |
rus rus |
Индекс УДК |
535.2/.3 539.2 |
Индекс ББК |
22.343 22.37 |
Таблицы для массовых библиотек Таблицы для массовых библиотек |
|
Дунаев, А. A. 070 z01710 |
|
Включения гексагональной фазы в керамиках кубического ZnS [Текст] А. A. Дунаев [и др.] |
|
Библиография | Библиогр.: с. 70 (22 назв. ) |
Аннотация | Представлены ИК-фурье-спектры отражения в области 50-500 см{-1} керамик ZnS, полученных методами химического газофазного осаждения (в том числе с дополнительной обработкой горячим изостатическим прессованием), горячего прессования, физического газофазного осаждения. В спектрах отражения и рассчитанных оптических постоянных всех образцов проявилась слабая полоса вблизи 295 см{ -1}, характерная для гексагональной фазы кристалла ZnS (вюрцит). Перекристаллизация сфалерит@вюрцит ниже номинальной температуры фазового перехода (1023 °С) может быть следствием склонности соединения ZnS к образованию политипных форм, что в данном керамическом материале обусловлено высокой неоднородностью строения собственно кристаллитов. |
Физика AR-MARS Физическая оптика AR-MARS Физика твердого тела. Кристаллография в целом AR-MARS |
|
Ключевые слова |
ИК спектр отражения абразивная обработка гексагональная фаза керамики ZnS оптические материалы оптические постоянные остаточные напряжения перекристаллизация сульфицид цинка |
Пахомов, П. М. 070 z02710 Хижняк, С. Д. 070 z03710 Чмель, А. Е. 070 z04710 |
|
Государственный оптический институт им. С. И. Вавилова z01700 Вторичная ответственность Тверской государственный университет z02700 Вторичная ответственность Тверской государственный университет z03700 Вторичная ответственность Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе Российской АН z04700 Вторичная ответственность |
|
ISSN | 0514-7506 |
Название источника | Журнал прикладной спектроскопии |
Место и дата издания | 2019 |
Прочая информация | Т. 86, № 1. - С. 66-70 |
RU 43013090 20190423 RCR |
|
RU 43013090 20190423 |
|
RU AR-MARS 20190423 RCR |
|
RU AR-MARS 20190423 |
|
Тип документа | b |
code year to no ss ad |
|
zhps 2019 86 1 66 1 |
|
718 |