| Индекс УДК | 66 |
|
Рентгеноструктурные исследования конформационных превращений в композиционных нанофильтрационных пленках [Текст] С. И. Лазарев [и др.] |
|
| Аннотация | В работе выполнены исследования конформационных превращений в структуре поверхностного слоя и подложке исходной и рабочей нанофильтрационных пленок, методами рентгеновского рассеяния на больших углах. Установлено, что механическая нагрузка, вызванная действием избыточного давления равным 1. 5 МПа для пористой композиционной пленки ОФАМ-К, вызывает конформационные изменения макромолекул фенилона С-4 в кристаллической и аморфной межкристаллитной фазах, при этом рассчитанные степени кристалличности уменьшаются с 49 до 36%. Отмечено, что в рабочем образце композиционной нанофильтрационной пленки ОПМН-П происходит полиморфная перестройка кристаллической фазы с изменением размеров кристаллической ячейки в направлении кристаллической оси (c), c увеличением кристалличности с 44 до 55%, при этом разрыхляется аморфная фаза. Выполнен полный расчет функции радиального распределения атомов исходной и рабочей пленок, который подтверждает перестройку кристаллических ячеек, за счет увеличения межатомного расстояния. |
| Название источника | Физикохимия поверхности и защита материалов |
| Место и дата издания | 2018 |
| Прочая информация | Т. 54, № 5. - С. 466-475 |
