| Индекс УДК | 535.33 |
|
Method of correlation coefficient optimization used in uv-vis spectrophotometric analysis for effluent in catalytic ozonation [Текст] J. Feng, H. Chen, X. Zhang |
|
| Примечание | Аннотация англоязычной статьи |
| Аннотация |
A wavelength selection method for spectrophotometric analysis, named correlation coefficient optimization (CCO), was employed for reagent-free analysis of organics (humic acid) in real sewage. The modeling set of CCO uses the effluent in the ozonation process of humic acid (HA) solution. In order to verify the relationship between HA concentration and absorbance at the selected wavelength, HA solutions with different mass concentrations were prepared as a validation set. The study showed that the absorbance at 300 nm could be a good quantitative indication of HA concentration. In addition, the absorbance at 300 nm was applied to analyze the HA concentration in the ozonation process. The decomposition of HA fits the pseudo-first-order kinetic model and has a linear relationship with pH and (T - 20) {2} (T is reaction temperature). Для безреагентного спектрофотометрического анализа органических веществ (гуминовой кислоты) в сточных водах рабочая длина волны выбирается так называемым методом оптимизации коэффициента корреляции. Модельный набор оптимизированных коэффициентов корреляции охватывает все возможные состояния сточных вод в процессе озонирования раствора гуминовой кислоты. Для установления связи между концентрацией гуминовой кислоты и поглощением на выбранной длине волны использованы растворы гуминовой кислоты с различной концентрацией. Показано, что лучшим количественным показателем концентрации гуминовой кислоты является поглощение на 300 нм. Поэтому для анализа концентрации гуминовой кислоты в процессе озонирования использовалась оптическая плотность на длине волны 300 нм. Распад гуминовой кислоты соответствует кинетической модели псевдопервого порядка. Скорость распада линейно связана с pH и (T - 20) {2} (T - температура реакции). |
| Название источника | Журнал прикладной спектроскопии |
| Место и дата издания | 2018 |
| Прочая информация | Т. 85, № 4. - С. 683 |
