| Маркер записи | n 22 3 4500 |
| Контрольный номер | zhps18_to85_no3_ss407_ad1 |
| Дата корректировки | 15:43:18 30 июля 2018 г. |
| Кодируемые данные | 180712s2018||||RU|||||||||||#||||# rus0| |
| Системный контрольный номер | RUMARS-zhps18_to85_no3_ss407_ad1 |
| AR-MARS | |
| Служба первич. каталог. |
Научная библиотека им. М. М. Бахтина Мордовского госуниверситета им. Н. П. Огарева МАРС |
| Код языка каталог. | rus |
| Код языка издания |
rus rus |
| Индекс УДК | 535.37 |
| Индекс ББК | 22.345 |
| Таблицы для массовых библиотек | |
|
Полисадова, Е. Ф. 070 z01710 |
|
|
Импульсная катодолюминесценция примесных центров в керамике на основе шпинели MgAl[2]O[4] [Текст] Е. Ф. Полисадова [и др.] |
|
| Библиография | Библиогр.: с. 412 (20 назв. ) |
| Аннотация | Исследованы спектрально-кинетические характеристики люминесценции примесных дефектов в наноструктурированной керамике на основе алюмомагниевой шпинели, синтезированной методом электроимпульсного плазменного спекания (SPS), и в исходных нанопрошках. Установлено, что при возбуждении импульсным электронным пучком в спектрах люминесценции наряду с собственным свечением шпинели регистрируется излучение примесных ионов хрома и марганца. Кинетика затухания катодолюминесценции ионов Cr{3+} и Mn{2+} описывается суммой двух экспонент с временами затухания 35 и 409 нс для иона Cr{3+}, 29 и 340 нс для Mn{2+}. Высокотемпературное воздействие в процессе SPS-синтеза не приводит к изменению ближайшего окружения примесных ионов. Изменение соотношения интенсивности собственных и примесных центров в спектрах люминесценции керамики и нанопорошка связано с сильным диффузным рассеянием света в образцах шпинели в виде нанопорошков. |
|
Физика AR-MARS Люминесценция AR-MARS |
|
| Ключевые слова |
алюмомагниевая шпинель импульсная катодолюминесценция ионы марганца ионы хрома искровое плазменное спекание катодолюминесценция нанокристаллов кинетика затухания люминесценция примесных дефектов нанокерамика нанокристаллов наноструктурированная керамика примесные ионы электроимпульсное спекание |
|
Ваганов, В. А. 070 z02710 Степанов, С. А. 070 z03710 Пайгин, В. Д. 070 z04710 Хасанов, О. Л. 070 z05710 Двилис, Э. С. 070 z06710 Валиев, Д. Т. 070 z07710 Калинин, Р. Г. 070 z08710 |
|
|
Национальный исследовательский Томский политехнический университет z01700 Вторичная ответственность Национальный исследовательский Томский политехнический университет z02700 Вторичная ответственность Национальный исследовательский Томский политехнический университет z03700 Вторичная ответственность Национальный исследовательский Томский политехнический университет z04700 Вторичная ответственность Национальный исследовательский Томский политехнический университет z05700 Вторичная ответственность Национальный исследовательский Томский политехнический университет z06700 Вторичная ответственность Национальный исследовательский Томский политехнический университет z07700 Вторичная ответственность Национальный исследовательский Томский политехнический университет z08700 Вторичная ответственность |
|
| ISSN | 0514-7506 |
| Название источника | Журнал прикладной спектроскопии |
| Место и дата издания | 2018 |
| Прочая информация | Т. 85, № 3. - С. 407-412 |
|
RU 43013090 20180712 RCR |
|
|
RU 43013090 20180712 |
|
|
RU AR-MARS 20180712 RCR |
|
|
RU AR-MARS 20180712 |
|
| Тип документа | b |
|
code year to no ss ad |
|
|
zhps 2018 85 3 407 1 |
|
| 718 |
