| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/570895081 |
| Дата корректировки | 13:58:01 2 февраля 2018 г. |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 621.385.833 |
| Мешков, Г. | |
|
Сканирующая резистивная микроскопия оксидов графена Текст |
|
|
микроскопия сканирующая микроскопия резистивная оксиды графена |
|
| Другие авторы | О. Синицына |
|
Ш. Раджабзода А. Григорьева И. Яминский |
|
|
Наноиндустрия 2017 № 7(78). - С.48-53 |
|
| Тип документа | b |
