Поиск

Проявление в ИК спектрах отражения искажений кристаллической решетки в керамиках ZnSe, подвергнутых абразивному воздействию

Авторы: Ситникова, В. Е. Дунаев, А. А. Мамалимов, Р. И. Пахомов, П. М. Хижняк, С. Д. Чмель, А. Е.
Краткая информация
Маркер записи n 22 3 4500
Контрольный номер zhps17_to84_no3_ss486_ad1
Дата корректировки 11:52:25 29 ноября 2017 г.
Кодируемые данные 171108s2017||||RU|||||||||||#||||# rus0|
Системный контрольный номер RUMARS-zhps17_to84_no3_ss486_ad1
AR-MARS
Служба первич. каталог. Научная библиотека им. М. М. Бахтина Мордовского госуниверситета им. Н. П. Огарева
МАРС
Код языка каталог. rus
Код языка издания rus
rus
Индекс УДК 535.2/.3
539.2
Индекс ББК 22.343
22.37
Таблицы для массовых библиотек
Таблицы для массовых библиотек
Ситникова, В. Е.
070
Проявление в ИК спектрах отражения искажений кристаллической решетки в керамиках ZnSe, подвергнутых абразивному воздействию
[Текст]
В. Е. Ситникова [и др.]
Библиография Библиогр.: с. 490 (17 назв. )
Аннотация Представлены ИК-фурье-спектры отражения керамик ZnSe, полученных методом одноосного горячего прессования (HP), физического осаждения (PVD) и сочетания физического осаждения и изостатического горячего прессования (HIP). Сравниваются оптические постоянные полированных и подвергнутых сухой шлифовке образцов. Шлифовка имитировала эрозию наружной поверхности оптических элементов из селенида цинка под воздействием твердых пылевых частиц и осадков. В полированных образцах остаточные напряжения проявились в ИК спектрах отражения керамик ZnSe{PVD} и ZnSe{HIP}, имеющих выраженную ориентированную структуру зерен, но отсутствовали в ZnSe{HP} вследствие взаимной компенсации напряжений в случайно ориентированных зернах материала. Напряжения, проявившиеся в сдвиге полос поглощения, рассчитанных методом Крамерса-Кронига, значительно возросли в образцах, подвергнутых абразивной обработке. Для всех обработанных керамик многократно увеличилась интенсивность полос поглощения, возникающих вследствие ангармонизма колебаний в поврежденной кристаллической решетке. Величина последнего эффекта также зависит от технологической предыстории получения керамик.
Физика
AR-MARS
Физическая оптика
AR-MARS
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
AR-MARS
Ключевые слова ИК спектр отражения
ИК-фурье-спектры отражения
абразивная обработка
искажения кристаллической решетки
керамика ZnSe
керамика селенид цинка
остаточное напряжение
поликристаллические керамики
широкозонные полупроводниковые материалы
Дунаев, А. А.
070
Мамалимов, Р. И.
070
Пахомов, П. М.
070
Хижняк, С. Д.
070
Чмель, А. Е.
070
ISSN 0514-7506
Название источника Журнал прикладной спектроскопии
Место и дата издания 2017
Прочая информация Т. 84, № 3. - С. 486-490
RU
43013090
20171108
RCR
RU
43013090
20171108
RU
AR-MARS
20171108
RCR
RU
AR-MARS
20171108
Тип документа b
code
year
to
no
ss
ad
zhps
2017
84
3
486
1
718