| Маркер записи | n 22 3 4500 |
| Контрольный номер | zhps17_to84_no2_ss233_ad1 |
| Дата корректировки | 15:16:50 28 августа 2017 г. |
| Кодируемые данные | 170811s2017||||RU|||||||||||#||||# rus0| |
| Системный контрольный номер | RUMARS-zhps17_to84_no2_ss233_ad1 |
| AR-MARS | |
| Служба первич. каталог. |
Научная библиотека им. М. М. Бахтина Мордовского госуниверситета им. Н. П. Огарева МАРС |
| Код языка каталог. | rus |
| Код языка издания |
rus rus |
| Индекс УДК |
535.33 544.72 |
| Индекс ББК |
22.344 24.58 |
|
Таблицы для массовых библиотек Таблицы для массовых библиотек |
|
|
Соболев, В. В. 070 |
|
|
Исследование оптических свойств кристаллов селенида бария Элементарные полосы переходов и их фундаментальные параметры II [Текст] В. В. Соболев, Д. А. Мерзляков, В. Вал. Соболев |
|
| Библиография | Библиогр.: с. 239 (19 назв. ) |
| Аннотация | Спектральные зависимости мнимых частей диэлектрической проницаемости e[2] (E), объемных (-Ime {-1}) и поверхностных (-Im (1+e) {-1}) характеристических потерь энергии электронов кристалла селенида бария разложены на 34 элементарные полосы в области 3-5. 5 эВ при 2 К и в области 5. 5-26 эВ при 77 К усовершенствованным методом объединенных диаграмм Арганда. Для каждой полосы спектров трех типов определены энергии максимумов Ei, полуширины Hi, амплитуды Ii, площади Si и силы осцилляторов fi. Параметр fi рассчитан по модифицированной формуле, известной для эффективного количества валентных электронов neff (E). Установлены основные особенности 34 элементарных полос селенида бария в области 3-26 эВ, обусловленных экситонами и междузонными переходами поперечного и продольного типа. |
|
Физика AR-MARS Спектроскопия AR-MARS Химия AR-MARS Физическая химия поверхностных явлений AR-MARS |
|
| Ключевые слова |
диаграмма арганда диэлектрическая проницаемость кристаллы селенида бария объемные и поверхностные потери энергии оптических свойств кристаллов селенид бария сила осциллятора усовершенствованный метод экситон энергия максимума |
|
Мерзляков, Д. А. 070 Соболев, В. Вал. 070 |
|
| ISSN | 0514-7506 |
| Название источника | Журнал прикладной спектроскопии |
| Место и дата издания | 2017 |
| Прочая информация | Т. 84, № 2. - С. 233-239 |
|
RU 43013090 20170811 RCR |
|
|
RU 43013090 20170811 |
|
|
RU AR-MARS 20170811 RCR |
|
|
RU AR-MARS 20170811 |
|
| Тип документа | b |
|
code year to no ss ad |
|
|
zhps 2017 84 2 233 1 |
|
| 718 |
