Маркер записи | n 22 3 4500 |
Контрольный номер | phcs17_to43_no2_ss172_ad1 |
Дата корректировки | 9:58:49 1 июня 2017 г. |
Кодируемые данные | 170523s2017||||RU|||||||||||#||||# rus0| |
Системный контрольный номер | RUMARS-phcs17_to43_no2_ss172_ad1 |
AR-MARS | |
Служба первич. каталог. |
БГТУ БГТУ |
Код языка каталог. | rus |
Код языка издания |
rus rus |
Индекс УДК | 666.1.038.33 |
Индекс ББК | 35.43 |
Таблицы для массовых библиотек | |
Школьников, Е. В. z01710 070 |
|
Кинетика ступенчатой объемной кристаллизации стекол AsSe[1.5]Snx (x < 0.28) [Текст] Школьников Е. В. |
|
Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил. |
Библиография | Библиогр.: с. 183 (20 назв. ) |
Аннотация | Исследована кинетика ступенчатых превращений при объемной изотермической кристаллизации полупроводниковых стекол AsSe[1. 5]Snx в интервале температур 210-310 °С методами ЯГРС {119}Sn, РФА, измерения плотности и микротвердости закаленных образцов. Анализ кинетики валовой объемной кристаллизации стекол выполнен по данным измерения плотности с использованием уравнения Колмогорова-Аврами, обобщенного на ступенчатые и неполные изотермические превращения. |
Химическая технология AR-MARS Стекло и стеклоизделия AR-MARS |
|
Ключевые слова |
термокристаллизация стекол ситаллы изотермическая валовая кристаллизация кристаллизация изотермическая кристаллизация валовая уравнение Колмогорова-Аврами Колмогорова-Аврами уравнение рентгенофлуоресцентный анализ ядерная гамма-резонансная спектроскопия полупроводниковые стекла стекла полупроводниковые микротвердость |
z01100 Санкт-Петербургский государственный лесотехнических университет им. С. М. Кирова Кафедра химии Вторичная ответственность |
|
ISSN | 0132-6651 |
Название источника | Физика и химия стекла |
Место и дата издания | 2017 |
Прочая информация | Т. 43, № 2. - С. 172-183 |
RU 22013539 20170523 RCR |
|
RU 22013539 20170523 |
|
RU AR-MARS 20170523 RCR |
|
RU AR-MARS 20170523 |
|
Тип документа | b |
code year to no ss ad |
|
phcs 2017 43 2 172 1 |
|
14889 |