| Индекс УДК |
535.2/.3 546 |
|
Интегральный изоконверсионный метод оценки параметров кристаллизации тонких пленок материалов фазовой памяти Ge[2]Sb[2]Te[5] [Текст] А. А. Шерченков [и др.] |
|
| Аннотация | Предложен метод оценки кинетических параметров кристаллизации тонких пленок материалов фазовой памяти, заключающийся в совместном использовании безмодельных и модельных изоконверсионных методов при анализе результатов дифференциальной сканирующей калориметрии. С использованием метода найдены модель реакции, энергия активации кристаллизации и предэкспоненциальный множитель в зависимости от степени преобразования для тонких пленок на основе Ge[2]Sb[2]Te[5]. |
| Название источника | Неорганические материалы |
| Место и дата издания | 2017 |
| Прочая информация | Т. 53, № 1. - С. 21-25 |
