Поиск

Современные подходы к исследованию тонких пленок и монослоев: рентгеновская рефлектометрия, рассеяние в скользящих углах отражения и метод стоячих рентгеновских волн

Авторы: Щербина, М. А. Чвалун, С. Н. Пономаренко, С. А. Ковальчук, М. В.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/475074560
Дата корректировки 22:08:19 13 октября 2015 г.
Служба первич. каталог. Боровик
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 539.216.2
Щербина, М. А.
Современные подходы к исследованию тонких пленок и монослоев: рентгеновская рефлектометрия, рассеяние в скользящих углах отражения и метод стоячих рентгеновских волн
Текст
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил.
Библиография Библиогр.: 92 назв.
тонкие пленки
монослои
рентгеновская рефлектометрия
производные олигомеров
олигомеры тиофена
органическая электроника
Чвалун, С. Н.
Пономаренко, С. А.
Ковальчук, М. В.
Успехи химии
2014
Т. 83, № 12. - С. 1091-1119
Тип документа b