-
Анализ дефектов поверхности исходных подложек алюминия и его сплавов методом сканирующего зонда Кельвина
Тявловский, А. К., Жарин, А. Л., Гусев, О. К., Воробей, Р. И., Мухуров, Н. И., Шаронов, Г. В., Пантелеев, К. В.
Анализ дефектов поверхности исходных подложек алюминия и его сплавов методом сканирующего зонда Кельвина, [Текст]
ил.
Приборы и методы измерений, 2017, Т. 8, № 1. - С. 61-72
-
Суперфинишная полировка алмазных подложек для эпитаксиальной технологии
Шаронов, Г. В., Петров, С. А.
Суперфинишная полировка алмазных подложек для эпитаксиальной технологии, [Текст]
ил., табл.
Инженерно-физический журнал, 2011, Т. 84, № 5. - С. 1100-1103
-
Контроль металлических поверхностей, обработанных алмазным наноточением, по работе выхода электрона
Шаронов, Г. В., Жарин, А. Л., Мухуров, Н. И., Пантелеев, К. В.
Контроль металлических поверхностей, обработанных алмазным наноточением, по работе выхода электрона, [Текст]
ил.
Приборы и методы измерений, 2015, Т. 6, № 2. - С. 196-203
