Каталог библиотеки БГТУ

1. Список доступных баз данных
2. Статьи
3. Поиск

Результаты поиска по словарям. Статьи

• Рентгенофлуоресцентное определение поверхностной плотности тонких пленок хрома и железа по образцам сравнения элементов с близкими атомными номерами
  Машин, Н. И., Черняева, Е. А., Туманова, А. Н., Ершов, А. А.
  
  Рентгенофлуоресцентное определение поверхностной плотности тонких пленок хрома и железа по образцам сравнения элементов с близкими атомными номерами, [Текст] ил., табл. Журнал аналитической химии, 2016, Т. 71, № 6. - С. 597-601
• Определение рентгенофлуоресцентным методом поверхностной плотности нанослоев хрома
  Машин, Н. И., Черняева, Е. А., Туманова, А. Н., Ершов, А. А.
  
  Определение рентгенофлуоресцентным методом поверхностной плотности нанослоев хрома , [Текст] Журнал прикладной спектроскопии, 2013, Т. 80, № 6. - С. 941-945
• Влияние материала подложки на интенсивность флуоресценции K{L}-линии тонких пленок хрома
  Машин, Н. И, Бачерикова, И. А., Черняева, Е. А., Туманова, А. Н., Ершов, А. А.
  
  Влияние материала подложки на интенсивность флуоресценции K{L}-линии тонких пленок хрома, [Текст] ил. Журнал прикладной спектроскопии, 2012, Т. 79, № 6. - С. 857-861
• Определение поверхностной плотности тонких пленок марганца по образцам сравнения элементов с близкими атомными номерами
  Машин, Н. И., Черняева, Е. А., Туманова, А. Н., Ершов, А. А.
  
  Определение поверхностной плотности тонких пленок марганца по образцам сравнения элементов с близкими атомными номерами, [Текст] ил., табл. Журнал прикладной спектроскопии, 2015, № 1. - С. 76-80
• Учет взаимного влияния элементов при рентгенофлуоресцентном анализе тонких двухслойных Ni/Ge-систем
  Машин, Н. И., Разуваев, А. Г., Черняева, Е. А., Туманова, А. Н., Ершов, А. А.
  
  Учет взаимного влияния элементов при рентгенофлуоресцентном анализе тонких двухслойных Ni/Ge-систем, [Текст] Журнал прикладной спектроскопии, 2013, Т. 80, № 1. - С. 5-11
• Определение массового коэфициента поглощения в двухслойных тонкопленочных системах Ti/V и V/Ti рентгенофлуоресцентным методом
  Машин, Н. И., Черняева, Е. А., Туманова, А. Н., Гафарова, Л. М.
  
  Определение массового коэфициента поглощения в двухслойных тонкопленочных системах Ti/V и V/Ti рентгенофлуоресцентным методом, [Текст] ил., табл. Журнал прикладной спектроскопии, 2016, Т. 83, № 1. - С. 65-68
• Исследование матричного влияния при атомно-эмиссионном определении примесей в мышьяке
  Лебедева, Р. В., Леонтьева, А. А., Туманова, А. Н., Машин, Н. И.
  
  Исследование матричного влияния при атомно-эмиссионном определении примесей в мышьяке, [Текст] Журнал аналитической химии, 2009, Т.64, № 8.- С. 837-839