-
Сорбция ионов цинка нетканым материалом из полипропилена, модифицированным полиакриловой кислотой, привитой к поверхности волокна: роль плотности прививки и водородных связей
Шейпак, Т. М., Горбачёв, А. А., Третинников, О. Н.
Сорбция ионов цинка нетканым материалом из полипропилена, модифицированным полиакриловой кислотой, привитой к поверхности волокна: роль плотности прививки и водородных связей, [[Текст]], Т. М. Шейпак, А. А. Горбачёв, О. Н. Третинников
ил.
// Высокомолекулярные соединения. Сер. А, Физика полимеров .-
2018 .-
Т. 60, № 4. - С. 284-288 .-
-
Исследование кристалличности в объеме и на поверхности водных и водно-солевых криогелей поливинилового спирта методом ИК-фурье-спектроскопии нарушенного полного внутреннего отражения
Третинников, О. Н., Загорская, С. А., Сушко, Н. И.
Исследование кристалличности в объеме и на поверхности водных и водно-солевых криогелей поливинилового спирта методом ИК-фурье-спектроскопии нарушенного полного внутреннего отражения, [Текст]
ил.
Высокомолекулярные соединения, 2014, Т. 56, № 3. - С. 263-268
-
Влияние галоидных солей щелочных металлов на кристалличность криогелей поливинилового спирта
Загорская, С. А., Третинников, О. Н.
Влияние галоидных солей щелочных металлов на кристалличность криогелей поливинилового спирта, [[Текст]], С. А. Загорская, О. И. Третинников
ил.
// Высокомолекулярные соединения. Сер. А, Физика полимеров .-
2018 .-
Т. 60, № 1. - С. 58-65 .-
-
Анализ влияния концентрации фосфорно-вольфрамовой кислоты на ее радиационно-индуцированное восстановление в нанокомпозитах с поливиниловым спиртом
Горбачев, А. А., Третинников, О. Н.
Анализ влияния концентрации фосфорно-вольфрамовой кислоты на ее радиационно-индуцированное восстановление в нанокомпозитах с поливиниловым спиртом, А. А. Горбачев, О. Н. Третинников
// Журнал прикладной спектроскопии .-
2024 .-
Т. 91, № 3. - С. 431-435 .-
-
Обнаружение влияния толщины полимерных нанопленок на их поверхностную рплотность методом ИК спектроскопии
Третинников, О. Н.
Обнаружение влияния толщины полимерных нанопленок на их поверхностную рплотность методом ИК спектроскопии, [Текст]
Ил.3
