Некоторые аспекты метрологического обеспечения измерения диэлектрических свойств материалов на сверхвысокой частоте в интервале температур 20-1200 С
Литовченко, А. В., Игнатенко, Г. К.
Некоторые аспекты метрологического обеспечения измерения диэлектрических свойств материалов на сверхвысокой частоте в интервале температур 20-1200 С, [Текст]
Заводская лаборатория, 2010, № 8.- С. 66-69
