Оценка тепловых параметров мощных биполярных транзисторов методом тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии
Нисс, В. С., Васьков, О. С., Турцевич, А. С., Керенцев, А. Ф., Кононенко, В. К.
Оценка тепловых параметров мощных биполярных транзисторов методом тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии, [Текст]
ил.
Приборы и методы измерений, 2015, Т. 6, № 2. - С. 249-256
