Определение профиля состава квантовых ям HgTe/Cd[х]Hg[1-x]Te методом одноволновой эллипсометрии
Швец, В. А., Михайлов, Н. Н. , Икусов, Д. Г., Ужаков, И. Н., Дворецкий, С. А.
Определение профиля состава квантовых ям HgTe/Cd[х]Hg[1-x]Te методом одноволновой эллипсометрии, [Электронный ресурс]
ил., табл.
Оптика и спектроскопия, 2019, Т. 127, вып. 2. - С. 318-324
Швец_определение
