-
Анализ дефектов поверхности исходных подложек алюминия и его сплавов методом сканирующего зонда Кельвина
Тявловский, А. К., Жарин, А. Л., Гусев, О. К., Воробей, Р. И., Мухуров, Н. И., Шаронов, Г. В., Пантелеев, К. В.
Анализ дефектов поверхности исходных подложек алюминия и его сплавов методом сканирующего зонда Кельвина, [Текст]
ил.
Приборы и методы измерений, 2017, Т. 8, № 1. - С. 61-72
-
Построение измерительной контактной разности потенциалов
Пантелеев, К. В., Микитевич, В. А., Жарин, А. Л.
// Приборы и методы измерений .-
2016 .-
Т. 7, № 1. - С. 7-15 .-
-
Цифровой измеритель контактной разности потенциалов
Пантелеев, К. В., Свистун, А. И., Тявловский, А. К., Жарин, А. Л.
Цифровой измеритель контактной разности потенциалов, [Текст]
ил.
Приборы и методы измерений, 2016, Т. 7, № 2. - С. 136-144
-
Контроль металлических поверхностей, обработанных алмазным наноточением, по работе выхода электрона
Шаронов, Г. В., Жарин, А. Л., Мухуров, Н. И., Пантелеев, К. В.
Контроль металлических поверхностей, обработанных алмазным наноточением, по работе выхода электрона, [Текст]
ил.
Приборы и методы измерений, 2015, Т. 6, № 2. - С. 196-203