| Индекс УДК | 533.9 |
|
Применение интерферометрии сантиметрового диапазона для диагностики высокоомных полупроводниковых материалов Текст БГТУ, кафедра физики |
|
|
Международная научно-техническая конференция "Автоматический контроль и автоматизация производственных процессов" : материалы конференции, Минск, 28-29 октября 2009 г. Минск, 2009 С. 127-129 |
