Каталог библиотеки БГТУ
Сайт библиотеки БГТУ
Сайт БГТУ
Электронная библиотека БГТУ
Базы данных
Труды сотрудников БГТУ
Методы атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых поверхностей
Местонахождение
Поиск
Все словари
Автор
Дата издания
Заглавие
Кафедра
Ключевые слова
Искать
Местонахождение для: Методы атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых поверхностей
Сигла хранения
Всего экземпляров
В наличии