| Индекс УДК |
539.213.2
538.975 |
|
Изучение тонких пленок MEX-PPV методами сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии Электронный ресурс |
|
| Место издания | Минск |
| Издательство | БГТУ |
| Дата издания оригинала | 2021 |
|
Информационные технологии Минск : БГТУ, 2021 С. 39-41 RU/IS/BASE/670161917 |
