| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/625316017 |
| Дата корректировки | 8:10:09 8 февраля 2023 г. |
| Служба первич. каталог. |
Яновская БГТУ БГТУ БГТУ |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания |
rus eng |
| Индекс УДК | 621.3.29 |
| Автор | Урбанович, Павел Павлович |
| Титул (звания) | д-р техн. наук, профессор |
| Полное имя | П. П. Урбанович |
|
Моделирование и анализ надежных параметров полупроводниковой памяти информационно-вычислительных устройств Текст |
|
| Место издания | Минск |
| Издательство | БГТУ |
| Дата издания оригинала | 2019 |
| Библиография |
Библиогр.: 22 назв. информационно-вычислительные устройства |
| Ключевые слова | полупроводниковая память |
|
дефекты отказы моделирование надежность |
|
| Организация/ юрисдикция | Белорусский государственный технологический университет |
| Другие уровни | Кафедра информационных систем и технологий |
| Люблинский католический университет Иоанна Павла II, Польша | |
|
Труды БГТУ. Сер. 3, Физико-математические науки и информатика 2019 № 2 (224). - С. 51-57 RU/IS/BASE/625309392 [ко всему сборнику] Издается с июля 1993 года 2520-6141 |
|
| Тип документа | b |
