Индекс УДК | 539.2 |
Исследование микрорельефа поверхности химически осажденных матриц SiO[2] - носителей функциональных элементов Текст |
|
5-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов, Минск, 7-8 октября 2002 г. Издат. центр БГУ, 2002 С. 80-85 |