| Индекс УДК | 621.793 |
| Автор | Пантелеев, К. В. |
|
Контроль однородности свойств поверхностей на основе зондового картирования потенциала Текст |
|
| Место издания | Минск |
| Издательство | Беларуская навука |
| Дата издания оригинала | 2020 |
| Ключевые слова | контроль однородности свойств поверхностей |
| Другие авторы | Свистун, А. И. |
|
Новые материалы и технологии: порошковая металлургия, композиционные материалы, защитные покрытия, сварка Минск : Беларуская навука, 2020 С. 518-524 RU/IS/BASE/672143642 978-985-08-2628-2 |
