Поиск

Электронные процессы и структура дефектов в стеклообразующих системах

Авторы: Силинь, А. Р. Годманис, И. Т. Скуя, Л. Н. Билан, О. Х. Клява, Я. Г. Таля, И. А. Савельев, В. Л. Бальс, А. Н.
Заказ Местонахождение Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/639491672
Дата корректировки 8:01:17 7 апреля 2020 г.
Вид содержания и средства доступа 70-00
Служба первич. каталог. Лапко
БГТУ
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 539.213
Полочн. индекс 539
Авторский знак Э45
Силинь, А. Р.
Электронные процессы и структура дефектов в стеклообразующих системах
Текст
сборник научных трудов
Министерство высшего и среднего специального образования Латвийской ССР, Латвийский государственный университет им. П. Стучки, Научно-исследовательский институт физики твердого тела ; [редкол.: Ю. Закис (отв. ред.) и др.]
Место издания Рига
Издательство Латвийский государственный университет им. П. Стучки
Дата издания оригинала 1982
Объем 154, [2] с.
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил.
Аннотация Сборник посвящен систематическим исследованиям по физике точечных дефектов и электронных процессов в широкощелевых оксидных стеклах. В исследованиях в основном использован чистый или легированный стеклообразный кремнезем.
стеклообразующие системы
физика точечных дефектов
точечные дефекты
широкощелевые оксидные стекла
стеклообразный кремнезем
примесные дефекты
собственные дефекты
структура дефектов
Годманис, И. Т.
Скуя, Л. Н.
Билан, О. Х.
Клява, Я. Г.
Таля, И. А.
Савельев, В. Л.
Бальс, А. Н.
Министерство высшего и среднего специального образования Латвийской ССР
Латвийский государственный университет им. П. Стучки
Научно-исследовательский институт физики твердого тела
Тип документа m