| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/543486938 |
| Дата корректировки | 7:04:52 23 марта 2017 г. |
| ISBN |
5-256-00130-2 (рус.) 90-247-2824-Х (англ.) |
| Вид содержания и средства доступа | 4-10 |
| Служба первич. каталог. |
Лапко БГТУ |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 621.382.049.771 |
| Полочн. индекс | 621.3 |
| Авторский знак | М78 |
| Антониадис, Д. | |
|
МОП-СБИС. Моделирование элементов и технологических процессов Текст под ред.: П. Антонетти [и др.] ; пер. с англ.: В. Л. Кустова [и др.] ; под ред. проф. Р. А. Суриса |
|
| Process and Device Simulation for MOS-VLSI Circuits | |
| МОП-СБИС. Моделирование | |
| Место издания | Москва |
| Издательство | Радио и связь |
| Дата издания оригинала | 1988 |
| Объем | 495, [1] с. |
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил., табл. |
| Аннотация | Книга представляет собой сборник лекций, прочитанных специалистами из многих стран на симпозиуме по математическому моделированию технологических процессов изготовления кремниевых интегральных схем и электрических характеристик их основных элементов - МОП-транзисторов. |
|
интегральные схемы ИС кремниевые интегральные схемы МОП-транзисторы ионная имплантация контроль материалов моделирование топографии анализ непланарных приборов |
|
| Другие авторы | Пламмер, Дж. |
|
Клейс, С. Риссель, Х. Гиббонс, Дж. Хелмс, Ч. Мей, Л. Камп, М. Тилерт, Р. Зальцбург, К. Оулдхем, У. Нейрейтер, А. Гринфилд, Дж. Сельбергер, С. |
|
| Тип документа | m |
