-
Некоторые вопросы надежности и устойчивости полупроводниковых материалов и структур к воздействиям внешних дестабилизирующих факторов
Коба, Б. В., Ильясов, А. З., Ломако, В. М., Кучинский, П. В., Гайдук, П. И., Дунаевский, В. И., Дружкова, И. А., Ваградов, Б. А., Беляев, В. А., Боцман, В. И.
Некоторые вопросы надежности и устойчивости полупроводниковых материалов и структур к воздействиям внешних дестабилизирующих факторов, [Текст], (материалы семинара, 01.11.84-06.11.84.) : [научно-технический сборник], Министерство высшего и среднего специального образования Таджикской ССР, Таджикский государственный университет ; науч. ред.: канд. физ.-мат. наук В. Г. Гафуров, канд. хим. наук Ю. М. Прохоцкий
Душанбе :
Таджикский государственный университет ,
1986 .-
167 с. .-
ил., табл.
-
Использование обратнорассеянного рентгеновского излучения для просвечивания объектов
Дудчик, Ю. И., Хилько, Г. И., Кучинский, П. В., Новик, А. Н., Субач А. А.
Использование обратнорассеянного рентгеновского излучения для просвечивания объектов, [Текст]
Минск :
БНТУ ,
2020 .-
Приборостроение - 2020, Минск : БНТУ, 2020, С. 40-41, RU/IS/BASE/672143416, 978-985-583-587-6
-
Моделирование обратной ветви вольтамерной характеристики кремниевого диода многочастичным методом Монте-Карло
Борздов, А. В., Борздов, В. М., Кучинский, П. В., Петлицкий, А. Н.
Моделирование обратной ветви вольтамерной характеристики кремниевого диода многочастичным методом Монте-Карло, [Текст]
Минск :
БНТУ ,
2020 .-
Приборостроение - 2020, Минск : БНТУ, 2020, С. 242-244, RU/IS/BASE/672143416, 978-985-583-587-6
