| Маркер записи | n 22 3 4500 |
| Контрольный номер | phcs23_to49_no1_ss60_ad1 |
| Дата корректировки | 11:22:20 31 июля 2023 г. |
| Кодируемые данные | 230607s2023||||RU|||||||||||#||||# rus0| |
| Системный контрольный номер | RUMARS-phcs23_to49_no1_ss60_ad1 |
| AR-MARS | |
| Служба первич. каталог. |
БГТУ МАРС |
| Код языка каталог. | rus |
| Код языка издания |
rus rus |
| Индекс УДК | 543.429.3 |
| Индекс ББК | 22.344 |
| Таблицы для массовых библиотек | |
|
Бордовский, Г. А. Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена 070 |
|
|
Природа локального окружения атомов в аморфных и кристаллических пленках Ge[3]Sb[2]Te[6], Ge[2]Sb[2]Te[5], GeSb[2]Te[4] и GeSb[4]Te[7] Г. А. Бордовский, А. В. Марченко, Ф. С. Насрединов [и др.] |
|
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил. |
| Текст | |
| непосредственный | |
| Библиография | Библиогр.: с. 69-70 (28 назв. ) |
| Аннотация | Методом мессбауэровской спектроскопии на изотопах {119}Sn, {121}Sb и {125}Te определено валентное состояние и локальное окружение атомов в аморфных и кристаллических пленках Ge[3]Sb[2]Te[6], Ge[2]Sb[2]Te[5], GeSb[2]Te[4] и GeSb[4]Te[7]. В кристаллических пленках двухвалентный германий находится в октаэдрических позициях ромбоэдрически искаженной решетке типа NaCl, тогда как в аморфных пленках четырехвалентные атомы германия образуют тетраэдрическую систему химических связей. Во всех пленках в ближайшем окружении германия находятся преимущественно атомы теллура. Трехвалентные атомы сурьмы в кристаллических и аморфных пленках занимают два типа октаэдрических позиций, различающихся степенью искажения, а в ближайшем окружении сурьмы находятся атомы теллура. Наконец, во всех пленках локальные структуры атомов теллура соответствуют структурным единицам теллура в соединениях GeTe и Sb[2]Te[3]. |
|
Физика AR-MARS Спектроскопия AR-MARS |
|
| Ключевые слова |
аморфные пленки атомы германия атомы олова атомы сурьмы атомы теллура кристаллические пленки кристаллические решетки кристаллические фазы магнетронное распыление мессбауэровская спектроскопия пленки аморфные пленки кристаллические рентгенофлуоресцентный анализ химические связи |
|
Марченко, А. В. Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена 070 Насрединов, Ф. С. Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого 070 Петрушин, Ю. А. Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена 070 Серегин, П. П. Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена 070 |
|
| ISSN | 0132-6651 |
| Название источника | Физика и химия стекла |
| Место и дата издания | 2023 |
| Прочая информация | Т. 49, № 1. - С. 60-70 |
|
RU 22013539 20230607 RCR |
|
|
RU 22013539 20230607 |
|
|
RU AR-MARS 20230607 RCR |
|
|
RU AR-MARS 20230607 |
|
| Тип документа | b |
|
code year to no ss ad |
|
|
phcs 2023 49 1 60 1 |
|
| 14889 |
