Поиск

Improvements of the vis-nirs model in the prediction of soil organic matter content using spectral pretreatments, sample selection, and wavelength optimization

Авторы: Lin, Z. D. Wang, Y. B. Wang, R. J. Wang, L. S. Lu, C. P. Zhang, Z. Y. Song, L. T. Liu, Y.
Подробная информация
Индекс УДК 535.2/.3
543.4/.5
Improvements of the vis-nirs model in the prediction of soil organic matter content using spectral pretreatments, sample selection, and wavelength optimization
[Текст]
Z. D. Lin [et al.]
Примечание Полный текст статьи публикуется в английской версии журнала
Аннотация При создании модели для анализа методом спектрометрии в видимом и ближнем ИК диапазонах содержания органических веществ (OMC) в черноземе с известковыми включениями использованы 130 образцов поверхностного слоя почвы, взятых в графстве Гуоян провинции Аньхой, Китай. Для минимизации несоответствующей и бесполезной информации в полученных из спектров данных и повышения степени их корреляции с измеряемыми величинами проведена предварительная обработка спектров. Для выбора обучающего набора использованы метод Кеннарда-Стоуна (KS) и разбиение набора образцов с совместным учетом расстояний по x-y (SPXY). C помощью алгоритма последовательных проекций (SPA) и генетического алгоритма (GA) осуществлена оптимизация длин волн. В итоге построена модель регрессии на главные компоненты (PCR), в которой оптимальное число главных компонент определено с помощью методики перекрестной проверки с исключением по одному. Показано, что комбинация фильтра Савицкого-Голея (SG) для сглаживания и мультипликативной поправки на рассеяние (MSC) может исключить влияние шума и дрейфа базовой линии; метод SPXY имеет преимущество перед KS при выборе образцов; SPA и GA могут значительно уменьшить число переменных по длинам волн и эффективно повысить точность GA и анализа OMC в почве до коэффициентов корреляции (Rcc), среднеквадратичной ошибки предсказания (RMSEP) и остаточной погрешности прогноза (RPD) 0. 9316, 0. 2142 и 2. 3195 соответственно.
Название источника Журнал прикладной спектроскопии
Место и дата издания 2017
Прочая информация Т. 84, № 3. - С. 509