| Индекс УДК | 539.216.2 |
|
Современные подходы к исследованию тонких пленок и монослоев: рентгеновская рефлектометрия, рассеяние в скользящих углах отражения и метод стоячих рентгеновских волн Текст |
|
|
Успехи химии 2014 Т. 83, № 12. - С. 1091-1119 |
