Effect of boron doping on high resolution x-ray diffraction metrology
Faheem, M., Zhang, Y., Dai, X.
Effect of boron doping on high resolution x-ray diffraction metrology, [[Текст]], M. Faheem, Y. Zhang, X. Dai
Аннотация англоязычной статьи .-
// Журнал прикладной спектроскопии .-
2018 .-
Т. 85, № 1. - С. 173-174 .-
