-
Микроструктура и комбинационное рассеяние света тонких пленок Cu[2]ZnSnSe[4], осажденных на гибкие металлические подложки
Станчик, А. В., Гременок, В. Ф., Башкиров, С. А., Тиванов, М. С., Юшкенас, Р. Л., Новиков, Г. Ф., Герайтис, Р., Саад, A.M.
Микроструктура и комбинационное рассеяние света тонких пленок Cu[2]ZnSnSe[4], осажденных на гибкие металлические подложки, [Электронный ресурс]
ил., табл.
Физика и техника полупроводников, 2018, Т. 52, вып. 2. - С. 227-232
Станчик_микроструктура
-
Исследование тонких пленок Cu[2]ZnSnSe[4] методом атомно-силовой микроскопии
Станчик, А. В., Барайшук, С. М., Башкиров, С. А., Гременок, В. Ф., Тиванов, М. С., Дергачева, М. Б., Уразов, К. А.
Исследование тонких пленок Cu[2]ZnSnSe[4] методом атомно-силовой микроскопии, [Текст]
ил., табл.
Весці Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі. Серыя фізіка-матэматычных навук, 2016, № 4. - С. 67-75
-
Морфология поверхности тонких пленок SnS, получаемых методом "горячей стенки"
Барайшук, С. М., Башкиров, С. А., Гременок, В. Ф., Михалкович, О. М., Туровец, А. И.
Морфология поверхности тонких пленок SnS, получаемых методом "горячей стенки", [Текст]
ил.
Весці БДПУ. Сер.3, Фізіка. Матэматыка. Інфарматыка. Біялогія. Геаграфія, 2016, № 4. - С. 5-10
