-
Оптические характеристики неоднородного слоя титаната бария, легированного европием
Стаськов, Н. И., Сотский, А. Б., Сотская, Л. И., Гапоненко, Н. В., Лашковская, Е. И., Петлицкий, А. Н., Козлов, А. А.
Оптические характеристики неоднородного слоя титаната бария, легированного европием, Н. И. Стаськов, А. Б. Сотский, Л. И. Сотская [и др.]
граф., ил.
// Оптика и спектроскопия .-
2021 .-
Т. 129, вып. 4. - С. 506-511 .-
-
Спектроскопия слоев на плоскопараллельных подложках
Сотский, А. Б., Михеев, С. С., Стаськов, Н. И., Сотская, Л. И.
Спектроскопия слоев на плоскопараллельных подложках, [Электронный ресурс]
ил., табл.
Оптика и спектроскопия, 2020, Т. 128, вып. 8. - С. 1133-1143
Сотский_спектроскопия
-
Трехкомпонентная модель эффективной среды для определения состава слоев на кремниевых пластинах
Стаськов, Н. И., Сотская, Л. И.
Трехкомпонентная модель эффективной среды для определения состава слоев на кремниевых пластинах, [[Текст]], Н. И. Стаськов, Л. И. Сотская
// Журнал прикладной спектроскопии .-
2017 .-
Т. 84, № 5. - С. 703-709 .-
-
Оптические характеристики отожженных пленок титаната бария, сформированных золь-гель методом
Стаськов, Н. И., Сотский, А. Б., Михеев, С. С., Гапоненко, Н. В., Холов, П. А., Райченок, Т. Ф.
Оптические характеристики отожженных пленок титаната бария, сформированных золь-гель методом, Н. И. Стаськов, А. Б. Сотский, С. С. Михеев [и др.]
// Журнал прикладной спектроскопии .-
2020 .-
Т. 87, № 6. - С. 918-925 .-
-
Оптические характеристики пленок оксида цинка на стеклянных подложках
Стаськов, Н. И., Сотский, А. Б., Сотская, Л. И., Филиппов, В. В., Шулицкий, Б. Г., Кашко, И. А.
Оптические характеристики пленок оксида цинка на стеклянных подложках, [[Текст]], Н. И. Стаськов [и др.]
// Журнал прикладной спектроскопии .-
2018 .-
Т. 85, № 4. - С. 658-665 .-
-
Определение оптических характеристик плоскопараллельных кварцевых пластин при углах Брюстера методом спектральной эллипсометрии
Стаськов, Н. И., Мухаммедмурадов, А. А., Крекотень, Н. А., Парашков, С. О.
Определение оптических характеристик плоскопараллельных кварцевых пластин при углах Брюстера методом спектральной эллипсометрии, Н. И. Стаськов, А. А. Мухаммедмурадов, Н. А. Крекотень, С. О. Парашков
// Журнал прикладной спектроскопии .-
2020 .-
Т. 87, № 1. - С. 122-129 .-
-
Решение обратной задачи спектральной эллипсометрии для поглощающей подложки с диэлектрическим слоем
Стаськов, Н. И., Шульга, А. В.
Решение обратной задачи спектральной эллипсометрии для поглощающей подложки с диэлектрическим слоем, [Текст]
ил.
Журнал прикладной спектроскопии, 2016, Т. 83, № 1. - С. 48-54
